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…das [[Raster-Reflexionsverfahren]], das [[Objekt-Rasterverfahren]], die [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Laser-Speckle-Interferometrie (ESPI)]] und die [[Shearographie]].<br> …Die entstehenden Muster auf der Oberfläche nennt man in Anlehnung an die [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|ESPI]]- oder [[Shearographie]] Methode „Speckles“ bzw. „Fleckchen“,

…esstechnik]]. In Analogie zur [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie (ESPI)]] nutzt man bei diesem Messverfahren auch die Entstehung von Granula …ch um eine relative Messtechnik handelt. Im Gegensatz dazu, werden bei der Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie absolute [[Messwert]]e der Verformung ermittelt. Die qualitative Auswertung

…erimentellen [[Speckle-Messtechnik]]en wie Speckle-Pattern-Photographie, [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Speckle-Pattern-Interferometrie]], [[Shearographie]], Grauwert-Korellations

…nen vergleichbare Ergebnisse mit dem [[Raster-Reflexionsverfahren]], der [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Laser-Speckle-Interferometrie (ESPI)]], der [[Laserextensometrie]], Hologra …Die entstehenden Muster auf der Oberfläche nennt man in Anlehnung an die [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|ESPI]]- oder [[Shearographie]] Methode „Speckles“ oder „Fleckchen“,

…], [[Shearographie]] [6] oder [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie (ESPI)]] [7] können derartige Kenntnisse über den lokalen Orientierungszu

…nheit über eine integrierte Videoaufzeichnung und ist optional mit einem [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|ESPI (Laser-Speckle-Extensometer)]] aufrüstbar. Das Mikroprüfsystem erlau

|[[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|ESPI-Verfahren]] * optische Prüfmethoden (Holografie, [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Laser-Speckle-Interferometrie (ESPI)]], Lockin-ESPI, Ultraschall-ESPI, [[Sh

…eter]]) und laserbasierte Feldmesstechniken ([[Speckle-Messtechnik]] wie [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie|Electronic-Speckle-Pattern-Analysis (ESPI)]], [[Shearographie]]) sowie die

…]] sowie die digitale Grauwert-Korrelations-Analyse (DIC) oder die ESPI ([[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie]]) bzw. die [[Shearographie]] genutzt werden. Hinsichtlich der Messung der

*[[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie]] (ESPI) *Speckle-Pattern-Interferometrie (siehe [[Electronic-Speckle-Pattern-Interferometrie]] (ESPI))