Elektronenmikroskopie - Versionsgeschichte

Loeffler-Kamann am 13. Januar 2025 um 08:42 Uhr

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	\|Bethge, H., Heydenreich, J.: (Eds.) Electron Microscopy in Solid State Physics. Elsevier Sci. Publ. Amsterdam (1987)		\|[https://de.wikipedia.org/wiki/Heinz_Bethge Bethge, H.], [https://de.wikipedia.org/wiki/Johannes_Heydenreich Heydenreich, J.]: (Eds.) Electron Microscopy in Solid State Physics. Elsevier Sci. Publ. Amsterdam (1987)
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	'''Zusatzliteratur'''		'''Zusatzliteratur'''

	* Picht, J., ~~Heidenreich~~, I.: Einführung in die Elektronenmikroskopie. Verlag Technik (1966) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 32)		* Picht, J., Heydenreich, I.: Einführung in die Elektronenmikroskopie. Verlag Technik (1966) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 32)

	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]
	[[Kategorie:Gastbeiträge]]		[[Kategorie:Gastbeiträge]]

Loeffler-Kamann am 8. Oktober 2024 um 08:30 Uhr

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	\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://de.wikipedia.org/wiki/Polymer_Service_Merseburg Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.		\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://de.wikipedia.org/wiki/Polymer_Service_Merseburg Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
	\|}		\|}

			==Siehe auch==
			*[[Rasterelektronenmikroskopie]]
			*[[Rasterkraftmikroskopie]]
			*[[Umgebungs-REM]]
			*[[Transmissionselektronenmikroskopie]]
			*[[In-situ-Zugversuch im ESEM mit SEA]]
			*[[Mikrotomie]]


	'''Literaturhinweise'''		'''Literaturhinweise'''

Oluschinski am 23. März 2023 um 10:46 Uhr

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	\|[2]		\|[2]
	\|Michler, G. H., Balta-Calleja, F. J.: Nano- and Micromechanics of Polymers: Structure Modification and Improvement of Properties. Carl Hanser Verlag, München (2012) (ISBN 978-3-~~4462767~~-9; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 13)		\|Michler, G. H., Balta-Calleja, F. J.: Nano- and Micromechanics of Polymers: Structure Modification and Improvement of Properties. Carl Hanser Verlag, München (2012) (ISBN 978-3-446-42767-9; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 13)
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	\|[7]		\|[7]
	\|Michler, G. H.: ~~Ultramicrotomy~~ 15 (1984) 81–100		\|Michler, G. H.: New Possibilities of Elektron Microscopical Determination of the Morphology Polymers. Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100
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	\|Michler, G. H.: Elektronenmikroskopie in Halle (Saale) – Stand, Perspektiven, Anwendungen. Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie (2017) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 20)		\|Michler, G. H.: Elektronenmikroskopie in Halle (Saale) – Stand, Perspektiven, Anwendungen. Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie (2017) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 20)
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			'''Zusatzliteratur'''

			* Picht, J., Heidenreich, I.: Einführung in die Elektronenmikroskopie. Verlag Technik (1966) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 32)

	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]
	[[Kategorie:Gastbeiträge]]		[[Kategorie:Gastbeiträge]]

Oluschinski am 28. November 2022 um 08:07 Uhr

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	\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://~~www~~.~~polymerservice-merseburg~~.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.		\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://de.wikipedia.org/wiki/Polymer_Service_Merseburg Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
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	\|[4]		\|[4]
	\|Kern, M., Trempler, J.: Observation and Measurement Microscopy in Material Science. Brünne-Verlag, Berlin Heidelberg (2008)		\|Kern, M., Trempler, J.: Observation and Measurement Microscopy in Material Science. Brünne-Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-9809-8489-8)
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	\|[9]		\|[9]
	\|Goodhew, P. J., Humphreys, F. J., Beanland, R.: Electron Microscopy and Analysis. 3rd Edn., Taylor & Francis, London (2000)		\|Goodhew, P. J., Humphreys, F. J., Beanland, R.: Electron Microscopy and Analysis. 3rd Edn., Taylor & Francis, London (2000) (ISBN 0-7484-0968-8)
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	\|[10]		\|[10]
	\|Zhang, X.-F., Zhang, Z.: (Eds.) Progress in Transmission Electron Microscopy. 1: Concepts and Techniques. Springer, Berlin (2001)		\|Zhang, X.-F., Zhang, Z.: (Eds.) Progress in Transmission Electron Microscopy. 1: Concepts and Techniques. Springer, Berlin (2001) (ISBN 3-540-67680-5)
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	\|[12]		\|[12]
	\|Magonov, S. N.: in: Meyers, R. A.(Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK (2000)		\|Magonov, S. N.: in: Meyers, R. A.(Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK (2000) (ISBN 978-0-4719-7670-7)
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	\|[13]		\|[13]
	\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010)		\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010) (ISBN 978-3-642-01231-0)
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	\|[14]		\|[14]

Posch am 15. Mai 2020 um 12:43 Uhr

2020-05-15T12:43:54Z

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	<span style="font-size:1.2em;font-weight:bold;">Elektronenmikroskopie (EM)</span>		<span style="font-size:1.2em;font-weight:bold;">Elektronenmikroskopie (EM)</span> (Autor: [[Michler,_Goerg_Hannes\|Prof. Dr. G. H. Michler]])
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	==Einführung==		==Einführung==
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			'''Danksagung'''
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			\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
			\|}

	'''Literaturhinweise'''		'''Literaturhinweise'''
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	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]
			[[Kategorie:Gastbeiträge]]

Posch am 14. Mai 2020 um 12:06 Uhr

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	\|[1]		\|[1]
	\|Michler, G. H.: Electron Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-54036350-7; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 1)		\|[[Michler,_Goerg_Hannes\|Michler, G. H.]]: Electron Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-54036350-7; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 1)
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	\|[2]		\|[2]

Reincke am 16. Februar 2018 um 14:00 Uhr

2018-02-16T14:00:55Z

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	Mit den verschiedenen Techniken können die [[Oberfläche]]n kompakter Kunststoffe und das Innere untersucht werden – siehe Schema in '''Bild 2''' oben. Oberflächenstrukturen können direkt mit der [[Rasterelektronenmikroskopie\|Rasterelektronenmikroskopie]] (REM, ESEM), [[rasterkraftmikroskopie\|Rasterkraftmikroskopie]] (AFM) und indirekt über die Abdrucktechnik mit der [[Transmissionselektronenmikroskopie\|Transmissionselektronenmikroskopie]] (TEM) untersucht werden. Ultra- und Semidünnschnitte vom Inneren werden mit der TEM und dickere Schnitte mit der AFM untersucht. Zum Vergleich der mit den verschiedenen Techniken erzielbaren Ergebnisse ist in der Abbildung unten die typische „Cross-hatched“ Morphologie von kommerziellem isotaktischem Polypropylen ([[Kurzzeichen]]: iPP) in einzelnen Bildern gezeigt.		Mit den verschiedenen Techniken können die [[Oberfläche]]n kompakter Kunststoffe und das Innere untersucht werden – siehe Schema in '''Bild 2''' oben. Oberflächenstrukturen können direkt mit der [[Rasterelektronenmikroskopie\|Rasterelektronenmikroskopie]] (REM, ESEM), [[rasterkraftmikroskopie\|Rasterkraftmikroskopie]] (AFM) und indirekt über die Abdrucktechnik mit der [[Transmissionselektronenmikroskopie\|Transmissionselektronenmikroskopie]] (TEM) untersucht werden. Ultra- und Semidünnschnitte vom Inneren werden mit der TEM und dickere Schnitte mit der AFM untersucht. Zum Vergleich der mit den verschiedenen Techniken erzielbaren Ergebnisse ist in der Abbildung unten die typische „Cross-hatched“ Morphologie von kommerziellem isotaktischem Polypropylen ([[Kurzzeichen]]: iPP) in einzelnen Bildern gezeigt.

	Zahlreiche Übersichten behandeln die Details der Lichtmikroskopie [4, 5], Elektronenmikroskopie [1, 6–11] und [[Rasterkraftmikroskopie]] [1, 3, 12, 13].		Zahlreiche Übersichten behandeln die Details der Lichtmikroskopie [4, 5], Elektronenmikroskopie [1, 6–11, 14] und [[Rasterkraftmikroskopie]] [1, 3, 12, 13].

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	\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010)		\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010)
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			\|[14]
			\|Michler, G. H.: Elektronenmikroskopie in Halle (Saale) – Stand, Perspektiven, Anwendungen. Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie (2017) (siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 20)
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	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]

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Neue Seite

{{PSM_Infobox}}
Elektronenmikroskopie (EM)
__FORCETOC__
==Einführung==

Die vielfältigen Strukturen und die [[Mikroskopische Struktur|Morphologie]] von [[Kunststoffe]]n werden mittels der Elektronenmikroskopie seit mehr als 60 Jahren untersucht. Mit der Entwicklung der mikroskopischen Techniken und Verfahren können strukturelle Details von makroskopischen Größen bis herab zu etwa 0,1 nm (= 10-10 m) abgebildet werden ('''Tabelle 1'''). Alternative Techniken sind die Streumethoden (SALS – Small Angle Light Scattering; SAXS, WAXS – Small and Wide Angle X-ray Scattering, SANS – Small Angle Neutron Scattering), da Streumethoden und mikroskopische Techniken oft sich ergänzende Ergebnisse liefern.

'''Tabelle 1:''' Größe struktureller Details von Kunststoffen, [[Auflösungsvermögen Mikroskop|Auflösungen]] und Vergrößerungen, die mit den verschiedenen mikroskopischen Techniken und Streumethoden erhalten werden können

[[Datei:em_T1.jpg]]

==Übersicht über die Methoden==

Die Elektronenmikroskopie (EM) kann in die Techniken der [[Transmissionselektronenmikroskopie|Transmissions-Elektronenmikroskopie]] (TEM) und der [[Rasterelektronenmikroskopie|Raster-Elektronenmikroskopie (REM)]] unterteilt werden. Ein Sprung vorwärts in der Aufklärung insbesondere von Nanostrukturen kam mit der Entwicklung der Raster-Proben-Mikroskopie und insbesondere der für Kunststoffe wichtigen Methode der [[Rasterkraftmikroskopie]] (Atomic Force Microscopy, AFM). Die verschiedenen Typen der Mikroskopie können ganz allgemein danach klassifiziert werden, ob eine Abbildung durch Bestrahlung wie mit einer „Lampe“ oder durch Abtasten der [[Oberfläche]] (siehe [[Bruchfläche]]) wie mit einem „Finger“ oder einer „Nadel“ erreicht wird – siehe '''Bild 1''' [1–3]:

[[Datei:em1.jpg]]
{|
|- valign="top"
|width="50px"|'''Bild 1''':
|width="600px" |Schematische Darstellung der Prinzipien der verschiedenen Typen der Mikroskopie (siehe Text) [1–3]
|}

'''Typ 1 – Transmission:''' Ein Licht- oder Elektronenstrahl durchdringt eine dünne Probe im Lichtmikroskop (LM) oder [[Transmissionselektronenmikroskopie|Transmissionselektronenmikroskop]] (TEM); Dünne (LM) oder ultradünne Proben (TEM) sind erforderlich

'''Typ 2 – Reflexion:''' Ein stationärer Strahl wird von der Probe reflektiert; kompakte Proben können untersucht werden

'''Typ 3 – Rasterstrahl:''' Ein fokussierter Strahl (Laserlicht oder Elektronenstrahl) wird über die Probe gescannt und reflektiert (in konfokaler Laser Raster Mikroskopie) oder erzeugt Sekundär- und Rückstreu-Elektronen (in Raster Elektronenmikroskopie)

'''Typ 4 – Ein fokussierter rasternder Strahl''' durchdringt eine dünne Probe (Raster-Transmisssions-Elektronenmikroskop)

'''Typ 5 – rasternde Spitze:''' Eine mechanische Spitze wird über die Probe gescannt und tritt mit dieser aufgrund verschiedener physikalischer Eigenschaften in Wechselwirkung (in [[Rasterkraftmikroskopie]] oder Raster-Tunnelmikroskopie für leitfähige Proben).

Mit den verschiedenen Techniken können die [[Oberfläche]]n kompakter Kunststoffe und das Innere untersucht werden – siehe Schema in '''Bild 2''' oben. Oberflächenstrukturen können direkt mit der [[Rasterelektronenmikroskopie|Rasterelektronenmikroskopie]] (REM, ESEM), [[rasterkraftmikroskopie|Rasterkraftmikroskopie]] (AFM) und indirekt über die Abdrucktechnik mit der [[Transmissionselektronenmikroskopie|Transmissionselektronenmikroskopie]] (TEM) untersucht werden. Ultra- und Semidünnschnitte vom Inneren werden mit der TEM und dickere Schnitte mit der AFM untersucht. Zum Vergleich der mit den verschiedenen Techniken erzielbaren Ergebnisse ist in der Abbildung unten die typische „Cross-hatched“ Morphologie von kommerziellem isotaktischem Polypropylen ([[Kurzzeichen]]: iPP) in einzelnen Bildern gezeigt.

Zahlreiche Übersichten behandeln die Details der Lichtmikroskopie [4, 5], Elektronenmikroskopie [1, 6–11] und [[Rasterkraftmikroskopie]] [1, 3, 12, 13].

[[Datei:em2.jpg]]
{|
|- valign="top"
|width="50px"|'''Bild 2''':
|width="600px" |'''oben:''' Einsatz der verschiedenen mikroskopischen Techniken zur Untersuchung von [[Bruchfläche|Oberflächen]] und dem Inneren '''unten:''' Vergleich der Ergebnisse der verschiedenen mikroskopischen Techniken für α-iPP: a) REM-Bild nach Permanganatätzung b) TEM-Bild nach chemischer Kontrastierung c) AFM-Bild
|}

'''Literaturhinweise'''
{|
|-valign="top"
|[1]
|Michler, G. H.: Electron Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-54036350-7; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 1)
|-valign="top"
|[2]
|Michler, G. H., Balta-Calleja, F. J.: Nano- and Micromechanics of Polymers: Structure Modification and Improvement of Properties. Carl Hanser Verlag, München (2012) (ISBN 978-3-4462767-9; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 13)
|-valign="top"
|[3]
|Michler, G. H.: Atlas of Polymer Morphology. Morphology, Deformation and Fracture Structures. Carl Hanser Verlag, München (2016) (ISBN 978-1-56990-557-9; E-Book ISBN 978-1-56990-558-6; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 14)

|-valign="top"
|[4]
|Kern, M., Trempler, J.: Observation and Measurement Microscopy in Material Science. Brünne-Verlag, Berlin Heidelberg (2008)
|-valign="top"
|[5]
|Wu, J., Chan, Ch.-M., Mai, Y.-W.: in Polymer Blends and Alloys; Shonaike, G. O.; Simon, G. P. (Eds.) Chapter 18, 505 – 548
|-valign="top"
|[6]
|Michler, G. H., Lebek, W.: Ultramikrotomie in der Materialforschung. Carl Hanser Verlag, München (2004) (ISBN 3-446-22721-0; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 5)
|-valign="top"
|[7]
|Michler, G. H.: Ultramicrotomy 15 (1984) 81–100
|-valign="top"
|[8]
|Bethge, H., Heydenreich, J.: (Eds.) Electron Microscopy in Solid State Physics. Elsevier Sci. Publ. Amsterdam (1987)
|-valign="top"
|[9]
|Goodhew, P. J., Humphreys, F. J., Beanland, R.: Electron Microscopy and Analysis. 3rd Edn., Taylor & Francis, London (2000)
|-valign="top"
|[10]
|Zhang, X.-F., Zhang, Z.: (Eds.) Progress in Transmission Electron Microscopy. 1: Concepts and Techniques. Springer, Berlin (2001)
|-valign="top"
|[11]
|Li, Zh. R.: (Ed.) Industrial Application of Electron Microscopy. Marcel Dekker Inc., New York (2003)
|-valign="top"
|[12]
|Magonov, S. N.: in: Meyers, R. A.(Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK (2000)
|-valign="top"
|[13]
|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010)
|}

[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]