Förderliche Vergrößerung Mikroskop - Versionsgeschichte

Loeffler-Kamann am 21. Oktober 2024 um 11:16 Uhr

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	* [[Elektronenmikroskopie]]		* [[Elektronenmikroskopie]]
	* [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie\|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]]		* [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie\|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]]
	* [[~~in-~~situ-Ultramikrotomie]]		* [[In situ Ultramikrotomie]]
	* Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]])		* Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]])
	* [[Mikrotomie]]		* [[Mikrotomie]]
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	\|width="500px" \|<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math>		\|width="500px" \|<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math>
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			==Siehe auch==

			*[[Auflösungsvermögen Mikroskop]]
			*[[Auflösung Materialprüfmaschine]]
			*[[Auflösung Laserextensometer-Gerätesysteme]]
			*[[Tiefenschärfe Mikroskop]]

Oluschinski am 12. August 2019 um 09:34 Uhr

2019-08-12T09:34:35Z

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	==Methoden zur Strukturcharakterisierung==		==Methoden zur Strukturcharakterisierung==

	Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von [[Kunststoffe]]n werden in der [[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik\|Diagnostik]] die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:		Zur Charakterisierung der [[Mikroskopische Struktur\|Struktur und Morphologie]] von [[Kunststoffe]]n werden in der [[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik\|Diagnostik]] die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:

	* [[Elektronenmikroskopie]]		* [[Elektronenmikroskopie]]
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Reincke am 18. Dezember 2017 um 09:30 Uhr

2017-12-18T09:30:58Z

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	\|Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter D 4)		\|Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter D 4)
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			[[Kategorie:Licht]]

Oluschinski am 14. August 2017 um 09:42 Uhr

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	\|width="500px" \|<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math>		\|width="500px" \|<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math>
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{{PSM_Infobox}}
Förderliche Vergrößerung Mikroskop
__FORCETOC__
==Methoden zur Strukturcharakterisierung==

Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von [[Kunststoffe]]n werden in der [[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik|Diagnostik]] die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:

* [[Elektronenmikroskopie]]
* [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]]
* [[in-situ-Ultramikrotomie]]
* Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]])
* [[Mikrotomie]]
* [[Rasterkraftmikroskopie]]
* [[Rasterelektronenmikroskopie]]
* [[Umgebungs-REM]] (ESEM)
* [[Transmissionselektronenmikroskopie]]

==Leistungsparameter für Mikroskope==

Die optische Leistungsfähigkeit von Mikroskopen wird durch die folgenden Parameter charakterisiert [1]:

* [[Auflösungsvermögen_Mikroskop|Auflösungsvermögen]]
* Förderliche Vergrößerung
* [[Tiefenschärfe_Mikroskop|Schärfentiefe]]

Unter der förderlichen Vergrößerung Vförd eines optischen Gerätes (Mikroskop) wird diejenige Grenzvergrößerung verstanden, bei deren Überschreitung kein Gewinn im Auflösungsvermögen durch den Betrachter erreicht wird. Eine über Vförd hinaus gesteigerte Vergrößerung wird daher als „leere“ Vergrößerung bezeichnet.

Es geht also das Auflösungsvermögen des menschlichen Auges ein, das sich aus der deutlichen Sehweite (~ 250 mm) und dem Betrachtungswinkel des Auges (>1’) für die Größe δ zu ca. 100 μm ergibt.

''Algemein:''

{|
|-
|width="20px"|
|width="500px" | <math> Foerderliche\ Vergroesserung=\frac{Aufl.-Verm.d.menschl.Auges}{Aufl.-Verm.d.Mikroskopes}</math>
|}

''Beispiel:''

{|
|-
|width="20px"|
|width="200px" | Lichtmikroskop:
|width="500px" |<math> V_{foerd\ LM}=\frac{100 \mu m}{0,4 \mu m}\sim 250 fach</math>
|}

{|
|-
|width="20px"|
|width="200px" | Transmissions elektronenmikroskop:
|width="500px" |<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math>
|}

'''Literaturhinweise'''
{|
|-valign="top"
|[1]
|Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter D 4)
|}

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