Transmissionselektronenmikroskopie - Versionsgeschichte

Oluschinski am 28. August 2026 um 08:36 Uhr

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	'''Tabelle 1:''' Zusammenhang zwischen Beschleunigungsspannung der Elektronen und der resultierenden Wellenlänge λ		'''Tabelle 1:''' Zusammenhang zwischen Beschleunigungsspannung der Elektronen und der resultierenden Wellenlänge λ

	{\| border="1px" style="border-collapse:collapse"		{\|class="alttable" border="1px" style="border-collapse:collapse"
	!! style="width:300px; background:#DCDCDC" \| Beschleunigungsspannung<br> (kV)		!! style="width:300px; background:#DCDCDC" \| Beschleunigungsspannung<br> (kV)
	!! style="width:200px; background:#DCDCDC" \| Wellenlänge λ<br> (nm)		!! style="width:200px; background:#DCDCDC" \| Wellenlänge λ<br> (nm)

Oluschinski am 23. Juli 2026 um 09:02 Uhr

2026-07-23T09:02:42Z

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	{\|		{\|
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	\|Die Herausgeber des [[~~Startseite~~\|WIKI-Lexikons]] "[[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik\|Diagnostik]]" danken [[Michler, Goerg Hannes\|Prof. Dr. G. H. Michler]], [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.		\|Die Herausgeber des [[Hauptseite\|WIKI-Lexikons]] "[[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik\|Diagnostik]]" danken [[Michler, Goerg Hannes\|Prof. Dr. G. H. Michler]], [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
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Oluschinski am 23. Juli 2026 um 08:11 Uhr

2026-07-23T08:11:31Z

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Oluschinski am 9. Januar 2026 um 08:45 Uhr

2026-01-09T08:45:14Z

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	\|2. Deformation kompakter Materialien und Untersuchung der Oberflächenveränderungen oder von Dünnschnitten im TEM<br>		\|2. Deformation kompakter Materialien und Untersuchung der Oberflächenveränderungen oder von Dünnschnitten im TEM<br>
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	\|3. Deformation dünner Filme oder Schnitte in einer speziellen Miniatur-Dehnvorrichtung für TEM, HEM, REM oder [[Rasterkraftmikroskopie\|AFM]], insbesondere in-situ-Dehntests (siehe: [[~~In-~~situ-Ultramikrotomie]]).		\|3. Deformation dünner Filme oder Schnitte in einer speziellen Miniatur-Dehnvorrichtung für TEM, HEM, REM oder [[Rasterkraftmikroskopie\|AFM]], insbesondere in-situ-Dehntests (siehe: [[in situ Ultramikrotomie]]).
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Loeffler-Kamann am 4. Juni 2025 um 12:00 Uhr

2025-06-04T12:00:17Z

← Nächstältere Version		Version vom 4. Juni 2025, 14:00 Uhr
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	\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.		\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
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			==Siehe auch==
			*[[Mikrotomie]]
			*[[Tiefenschärfe Mikroskop]]
			*[[Peelvorgang]]
			*[[Metallographie]]
			*[[Instrumentierter Kerbschlagzugversuch, Beispiele]]
			*[[Plastographie]]


	'''Literaturhinweise'''		'''Literaturhinweise'''
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	\|-valign="top"		\|-valign="top"
	\|[4]		\|[4]
	\|Michler, G. H.: New Possibilities of the Electron Microscopical Determination of the Morphology of Polymers. Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100		\|Michler, G. H.: New Possibilities of the Electron Microscopical Determination of the Morphology of Polymers. Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100, DOI: [https://doi.org/10.1016/0304-3991(84)90077-9 https://doi.org/10.1016/0304-3991(84)90077-9]
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	\|[5]		\|[5]
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	\|[13]		\|[13]
	\|Poelt, P., Ingolic, E., Gahleitner, M., Bernreitner, K., Geymayer, W.: Characterization of Modified Polypropylene by Scanning Electron Microscopy. J. Appl. Polym. Sci. 78 (2000) 1152–1161		\|Poelt, P., Ingolic, E., Gahleitner, M., Bernreitner, K., Geymayer, W.: Characterization of Modified Polypropylene by Scanning Electron Microscopy. J. Appl. Polym. Sci. 78 (2000) 1152–1161, DOI: [https://doi.org/10.1002/1097-4628%2820001031%2978%3A5%3C1152%3A%3AAID-APP250%3E3.0.CO%3B2-7 https://doi.org/10.1002/1097-4628%2820001031%2978%3A5%3C1152%3A%3AAID-APP250%3E3.0.CO%3B2-7]
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	\|[14]		\|[14]
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	\|[17]		\|[17]
	\|Michler, G. H.: Electron Microscopic Investigations of Morphology and Structure. Formation of Polymers. J. Macromolecular Sci.-Physics B 35 (1996) 329–355		\|Michler, G. H.: Electron Microscopic Investigations of Morphology and Structure. Formation of Polymers. J. Macromolecular Sci.-Physics B 35 (1996) 329–355, DOI: [https://doi.org/10.1080/00222349608220384 https://doi.org/10.1080/00222349608220384]
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	\|[18]		\|[18]
	\|Michler, G. H., Dietzsch, Ch.: Investigation of Crystalline Polymeric Solids at Reduced Beam Damage in the High Voltage Electron Microscopy. Crystal Res. & Technol. 17 (1982) 1241–1254		\|Michler, G. H., Dietzsch, Ch.: Investigation of Crystalline Polymeric Solids at Reduced Beam Damage in the High Voltage Electron Microscopy. Crystal Res. & Technol. 17 (1982) 1241–1254, DOI: [https://doi.org/10.1002/CRAT.2170171012 https://doi.org/10.1002/CRAT.2170171012]
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	\|[19]		\|[19]

Loeffler-Kamann am 10. Juli 2024 um 12:04 Uhr

2024-07-10T12:04:43Z

← Nächstältere Version		Version vom 10. Juli 2024, 14:04 Uhr
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	\|[4]		\|[4]
	\|Michler, G. H.: ~~new~~ Possibilities of the Electron Microscopical Determination of the Morphology of Polymers, Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100		\|Michler, G. H.: New Possibilities of the Electron Microscopical Determination of the Morphology of Polymers. Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100
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	\|[5]		\|[5]
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	\|[11]		\|[11]
	\|Magonov, S. N.: In: Meyers, R. A. (Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK, (2000) 7432 (ISBN 978-0-470-97333-2)		\|Magonov, S. N.: In: Meyers, R. A. (Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry: Applications, Theory and Instrumentation. Wiley, Chichester, UK, (2000) 7432 (ISBN 978-0-470-97333-2)
	\|-valign="top"		\|-valign="top"
	\|[12]		\|[12]

Oluschinski am 4. August 2023 um 10:49 Uhr

2023-08-04T10:49:53Z

← Nächstältere Version		Version vom 4. August 2023, 12:49 Uhr
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	\|[2]		\|[2]
	\|Michler, G. H., Balta-Calleja, F. J.: Nano- and Micromechanics of Polymers: Structure Modification and Improvement of Properties. Carl Hanser Verlag, München (2012) (ISBN 978-3-~~4462767~~-9; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 13)		\|Michler, G. H., Balta-Calleja, F. J.: Nano- and Micromechanics of Polymers: Structure Modification and Improvement of Properties. Carl Hanser Verlag, München (2012) (ISBN 978-3-446-42767-9; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 13)
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	\|[3]		\|[3]
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	\|[4]		\|[4]
	\|Michler, G. H.: ~~Ultramicrotomy~~ 15 (1984) 81–100		\|Michler, G. H.: new Possibilities of the Electron Microscopical Determination of the Morphology of Polymers, Ultramicroscopy 15 (1984) 81–100
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	\|[5]		\|[5]
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	\|[6]		\|[6]
	\|Goodhew, P. J., Humphreys, F. J., Beanland, R.: Electron Microscopy and Analysis. 3rd Edn., Taylor & Francis, London (2000)		\|Goodhew, P. J., Humphreys, J., Beanland, R.: Electron Microscopy and Analysis. 3rd Edn., Taylor & Francis, London (2000) (ISBN 978-0-7484-0968-6)
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	\|[7]		\|[7]
	\|Zhang, X.-F., Zhang, Z.: (Eds.) Progress in Transmission Electron Microscopy, 1: Concepts and Techniques. Springer, Berlin (2001)		\|Zhang, X.-F., Zhang, Z.: (Eds.) Progress in Transmission Electron Microscopy, 1: Concepts and Techniques. Springer, Berlin (2001) (ISBN 3-540-67680-5)
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	\|[8]		\|[8]
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	\|[11]		\|[11]
	\|Magonov, S. N.: In: Meyers, R. A. (Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK, (2000) 7432		\|Magonov, S. N.: In: Meyers, R. A. (Ed.) Encyclopedia of Analytical Chemistry. Wiley, Chichester, UK, (2000) 7432 (ISBN 978-0-470-97333-2)
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	\|[12]		\|[12]
	\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010)		\|Schönherr, H., Vancso, G. J.: Scanning Force Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2010) (ISBN 978-3-642-01230-3)
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	\|[13]		\|[13]
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	\|-valign="top"		\|-valign="top"
	\|[14]		\|[14]
	\|Karger-Kocsis, J. (Ed.): Polypropylene: Structure, Blends and Composites. Vol.1: Structure and Morphology. Chapman & Hall, London (1995)		\|Karger-Kocsis, J. (Ed.): Polypropylene: Structure, Blends and Composites. Vol.1: Structure and Morphology. Chapman & Hall, London (1995) (ISBN 978-0-4126-1440-8]
	\|-valign="top"		\|-valign="top"
	\|[15]		\|[15]

Posch am 15. Mai 2020 um 12:49 Uhr

2020-05-15T12:49:13Z

← Nächstältere Version		Version vom 15. Mai 2020, 14:49 Uhr
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	{{PSM_Infobox}}		{{PSM_Infobox}}
	<span style="font-size:1.2em;font-weight:bold;">Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM)</span>		<span style="font-size:1.2em;font-weight:bold;">Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM)</span> (Autor: [[Michler,_Goerg_Hannes\|Prof. Dr. G. H. Michler]])
	__FORCETOC__		__FORCETOC__
	==Funktionsweise eines TEM==		==Funktionsweise eines TEM==
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	\|}		\|}

			'''Danksagung'''
			{\|
			\|-valign="top"
			\|Die Herausgeber des Lexikons danken Prof. Dr. G. H. Michler, [https://www.uni-halle.de/ Matrin-Luther-Universität Halle-Wittenberg] und [https://www.polymerservice-merseburg.de/ Polymer Service GmbH Merseburg] für den Gastbeitrag.
			\|}

	'''Literaturhinweise'''		'''Literaturhinweise'''
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	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]
			[[Kategorie:Gastbeiträge]]

Posch am 14. Mai 2020 um 12:50 Uhr

2020-05-14T12:50:06Z

← Nächstältere Version		Version vom 14. Mai 2020, 14:50 Uhr
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	==In-situ-Mikroskopie==		==In-situ-Mikroskopie==

	Die Vielfalt der strukturellen Details in [[Kunststoffe]]n bedingt eine Mannigfaltigkeit in den nano- und mikromechanischen Prozessen unter Belastung. Diese umfassen Veränderungen auf der Ebene der Makromoleküle (auf der nm-Skala), lokalisierte plastische Prozesse wie [[Crazing]] und Scherfließen (auf der μm-Ebene) bis zu [[Rissausbreitung]] und dem makroskopischen [[Bruch]] (auf der mm-Ebene). Daher gibt es verschiedene Techniken zur Untersuchung dieser Prozesse, die in '''Bild 15''' skizziert sind. Es gibt drei Hauptrichtungen:<br>		Die Vielfalt der strukturellen Details in [[Kunststoffe]]n bedingt eine Mannigfaltigkeit in den nano- und mikromechanischen Prozessen unter Belastung. Diese umfassen Veränderungen auf der Ebene der Makromoleküle (auf der nm-Skala), lokalisierte plastische Prozesse wie [[Crazing]] und [[Scherbandbildung\|Scherfließen]] (auf der μm-Ebene) bis zu [[Rissausbreitung]] und dem makroskopischen [[Bruch]] (auf der mm-Ebene). Daher gibt es verschiedene Techniken zur Untersuchung dieser Prozesse, die in '''Bild 15''' skizziert sind. Es gibt drei Hauptrichtungen:<br>
	{\|		{\|
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	\|[1]		\|[1]
	\|Michler, G. H.: Electron Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-54036350-7; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 1)		\|[[Michler,_Goerg_Hannes\|Michler, G. H.]]: Electron Microscopy of Polymers. Springer Verlag, Berlin Heidelberg (2008) (ISBN 978-3-54036350-7; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter F 1)
	\|-valign="top"		\|-valign="top"
	\|[2]		\|[2]

Oluschinski am 13. August 2019 um 08:36 Uhr

2019-08-13T08:36:47Z

← Nächstältere Version		Version vom 13. August 2019, 10:36 Uhr
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	Bei Präparaten, die kaum Unterschiede in der [[Dichte]] und der Objektdicke aufweisen (z. B. Ultradünnschnitte von mehrphasigen [[Polymer]]en), müssen für TEM-Untersuchungen meist selektive Kontrastierverfahren eingesetzt werden. Dabei wird z. B. durch Einlagerung schwerer Atome wie Osmium oder Ruthenium das Streuvermögen einer Phase der Probe deutlich erhöht und damit die Aufklärung der Probenmorphologie ermöglicht. Ein Beispiel einer Kontrastverstärkung durch selektive chemische Kontrastierung der amorphen Bereiche in einem teilkristallinen [[Polymer]] zeigt '''Bild 3'''.		Bei Präparaten, die kaum Unterschiede in der [[Dichte]] und der Objektdicke aufweisen (z. B. Ultradünnschnitte von mehrphasigen [[Polymer]]en), müssen für TEM-Untersuchungen meist selektive Kontrastierverfahren eingesetzt werden. Dabei wird z. B. durch Einlagerung schwerer Atome wie Osmium oder Ruthenium das Streuvermögen einer Phase der Probe deutlich erhöht und damit die Aufklärung der Probenmorphologie ermöglicht. Ein Beispiel einer Kontrastverstärkung durch selektive chemische Kontrastierung der amorphen Bereiche in einem teilkristallinen [[Polymer]] zeigt '''Bild 3'''.

	Übersichten über die verschiedenen Methoden der [[Elektronenmikroskopie]] sind in [1 – 15] enthalten.		Übersichten über die verschiedenen Methoden der [[Elektronenmikroskopie]] sind in [1 – 15, 19] enthalten.

	[[Datei:tem2.jpg]]		[[Datei:tem2.jpg]]
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	\|[8]		\|[8]
	\|Li, Zh. R.: (Ed.) Industrial Application of Electron Microscopy. Marcel Dekker Inc., New York (2003)		\|Li, Zh. R. (Ed.): Industrial Application of Electron Microscopy. Marcel Dekker Inc., New York (2003)
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	\|[11]		\|[11]
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	\|[18]		\|[18]
	\|Michler, G. H., Dietzsch, Ch.: Investigation of Crystalline Polymeric Solids at Reduced Beam Damage in the High Voltage Electron Microscopy. Crystal Res. & Technol. 17 (1982) 1241–1254		\|Michler, G. H., Dietzsch, Ch.: Investigation of Crystalline Polymeric Solids at Reduced Beam Damage in the High Voltage Electron Microscopy. Crystal Res. & Technol. 17 (1982) 1241–1254
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			\|[19]
			\|Michler, G. H.: Elektronenmikroskopie in Halle (Saale) – Stand, Perspektiven, Anwendungen. Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie Halle (Saale), (2017)
	\|}		\|}

	[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]		[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]]