Förderliche Vergrößerung Mikroskop: Unterschied zwischen den Versionen
| (2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt) | |||
| Zeile 4: | Zeile 4: | ||
==Methoden zur Strukturcharakterisierung== | ==Methoden zur Strukturcharakterisierung== | ||
| − | Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von [[Kunststoffe]]n werden in der [[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik|Diagnostik]] die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet: | + | Zur Charakterisierung der [[Mikroskopische Struktur|Struktur und Morphologie]] von [[Kunststoffe]]n werden in der [[Kunststoffprüfung]] und [[Kunststoffdiagnostik|Diagnostik]] die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet: |
* [[Elektronenmikroskopie]] | * [[Elektronenmikroskopie]] | ||
* [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]] | * [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]] | ||
| − | * [[ | + | * [[In situ Ultramikrotomie]] |
* Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]]) | * Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]]) | ||
* [[Mikrotomie]] | * [[Mikrotomie]] | ||
| Zeile 48: | Zeile 48: | ||
|- | |- | ||
|width="20px"| | |width="20px"| | ||
| − | |width="200px" | Transmissions<br>elektronenmikroskop: | + | |width="200px" | Transmissions-<br>elektronenmikroskop: |
|width="500px" |<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math> | |width="500px" |<math> V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach</math> | ||
|} | |} | ||
| + | |||
| + | ==Siehe auch== | ||
| + | |||
| + | *[[Auflösungsvermögen Mikroskop]] | ||
| + | *[[Auflösung Materialprüfmaschine]] | ||
| + | *[[Auflösung Laserextensometer-Gerätesysteme]] | ||
| + | *[[Tiefenschärfe Mikroskop]] | ||
| Zeile 59: | Zeile 66: | ||
|Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter D 4) | |Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe [[AMK-Büchersammlung]] unter D 4) | ||
|} | |} | ||
| + | |||
| + | [[Kategorie:Licht]] | ||
Aktuelle Version vom 21. Oktober 2024, 12:16 Uhr
| Ein Service der |
|---|
|
| Polymer Service GmbH Merseburg |
| Tel.: +49 3461 30889-50 E-Mail: info@psm-merseburg.de Web: https://www.psm-merseburg.de |
| Unser Weiterbildungsangebot: https://www.psm-merseburg.de/weiterbildung |
| PSM bei Wikipedia: https://de.wikipedia.org/wiki/Polymer Service Merseburg |
Förderliche Vergrößerung Mikroskop
Methoden zur Strukturcharakterisierung
Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von Kunststoffen werden in der Kunststoffprüfung und Diagnostik die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:
- Elektronenmikroskopie
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX
- In situ Ultramikrotomie
- Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe Umgebungs-REM)
- Mikrotomie
- Rasterkraftmikroskopie
- Rasterelektronenmikroskopie
- Umgebungs-REM (ESEM)
- Transmissionselektronenmikroskopie
Leistungsparameter für Mikroskope
Die optische Leistungsfähigkeit von Mikroskopen wird durch die folgenden Parameter charakterisiert [1]:
- Auflösungsvermögen
- Förderliche Vergrößerung
- Schärfentiefe
Unter der förderlichen Vergrößerung Vförd eines optischen Gerätes (Mikroskop) wird diejenige Grenzvergrößerung verstanden, bei deren Überschreitung kein Gewinn im Auflösungsvermögen durch den Betrachter erreicht wird. Eine über Vförd hinaus gesteigerte Vergrößerung wird daher als „leere“ Vergrößerung bezeichnet.
Es geht also das Auflösungsvermögen des menschlichen Auges ein, das sich aus der deutlichen Sehweite (~ 250 mm) und dem Betrachtungswinkel des Auges (>1’) für die Größe δ zu ca. 100 μm ergibt.
Algemein:
Beispiel:
| Lichtmikroskop: |
| Transmissions- elektronenmikroskop: |
Siehe auch
- Auflösungsvermögen Mikroskop
- Auflösung Materialprüfmaschine
- Auflösung Laserextensometer-Gerätesysteme
- Tiefenschärfe Mikroskop
Literaturhinweise
| [1] | Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe AMK-Büchersammlung unter D 4) |