Förderliche Vergrößerung Mikroskop

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Förderliche Vergrößerung Mikroskop

Methoden zur Strukturcharakterisierung

Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von Kunststoffen werden in der Kunststoffprüfung und Diagnostik die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:

• Elektronenmikroskopie
• Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX
• in-situ-Ultramikrotomie
• Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe Umgebungs-REM)
• Mikrotomie
• Rasterkraftmikroskopie
• Rasterelektronenmikroskopie
• Umgebungs-REM (ESEM)
• Transmissionselektronenmikroskopie

Leistungsparameter für Mikroskope

Die optische Leistungsfähigkeit von Mikroskopen wird durch die folgenden Parameter charakterisiert [1]:

• Auflösungsvermögen
• Förderliche Vergrößerung
• Schärfentiefe

Unter der förderlichen Vergrößerung V_förd eines optischen Gerätes (Mikroskop) wird diejenige Grenzvergrößerung verstanden, bei deren Überschreitung kein Gewinn im Auflösungsvermögen durch den Betrachter erreicht wird. Eine über V_förd hinaus gesteigerte Vergrößerung wird daher als „leere“ Vergrößerung bezeichnet.

Es geht also das Auflösungsvermögen des menschlichen Auges ein, das sich aus der deutlichen Sehweite (~ 250 mm) und dem Betrachtungswinkel des Auges (>1’) für die Größe δ zu ca. 100 μm ergibt.

Algemein:

$Foerderliche\ Vergroesserung={\frac {Aufl.-Verm.d.menschl.Auges}{Aufl.-Verm.d.Mikroskopes}}$

Beispiel:

Lichtmikroskop:

$V_{foerd\ LM}={\frac {100\mu m}{0,4\mu m}}\sim 250fach$

Transmissions elektronenmikroskop:

$V_{foerd\ TEM}={\frac {100\mu m}{0,2nm}}\sim 500.000fach$

Literaturhinweise

[1]	Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe AMK-Büchersammlung unter D 4)