Förderliche Vergrößerung Mikroskop

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Polymer Service GmbH Merseburg
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Methoden zur Strukturcharakterisierung

Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von Kunststoffen werden in der Kunststoffprüfung und Diagnostik die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:

Elektronenmikroskopie
Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX
in-situ-Ultramikrotomie
Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe Umgebungs-REM)
Mikrotomie
Rasterkraftmikroskopie
Rasterelektronenmikroskopie
Umgebungs-REM (ESEM)
Transmissionselektronenmikroskopie

Leistungsparameter für Mikroskope

Die optische Leistungsfähigkeit von Mikroskopen wird durch die folgenden Parameter charakterisiert [1]:

Auflösungsvermögen
Förderliche Vergrößerung
Schärfentiefe

Unter der förderlichen Vergrößerung V_förd eines optischen Gerätes (Mikroskop) wird diejenige Grenzvergrößerung verstanden, bei deren Überschreitung kein Gewinn im Auflösungsvermögen durch den Betrachter erreicht wird. Eine über V_förd hinaus gesteigerte Vergrößerung wird daher als „leere“ Vergrößerung bezeichnet.

Es geht also das Auflösungsvermögen des menschlichen Auges ein, das sich aus der deutlichen Sehweite (~ 250 mm) und dem Betrachtungswinkel des Auges (>1’) für die Größe δ zu ca. 100 μm ergibt.

Algemein:

Fehler beim Parsen (SVG (MathML kann über ein Browser-Plugin aktiviert werden): Ungültige Antwort („Math extension cannot connect to Restbase.“) von Server „https://wikimedia.org/api/rest_v1/“:): {\displaystyle Foerderliche\ Vergroesserung=\frac{Aufl.-Verm.d.menschl.Auges}{Aufl.-Verm.d.Mikroskopes}}

Beispiel:

Lichtmikroskop:

Fehler beim Parsen (SVG (MathML kann über ein Browser-Plugin aktiviert werden): Ungültige Antwort („Math extension cannot connect to Restbase.“) von Server „https://wikimedia.org/api/rest_v1/“:): {\displaystyle V_{foerd\ LM}=\frac{100 \mu m}{0,4 \mu m}\sim 250 fach}

Transmissions
elektronenmikroskop:

Fehler beim Parsen (SVG (MathML kann über ein Browser-Plugin aktiviert werden): Ungültige Antwort („Math extension cannot connect to Restbase.“) von Server „https://wikimedia.org/api/rest_v1/“:): {\displaystyle V_{foerd\ TEM}=\frac{100 \mu m}{0,2 nm}\sim 500.000 fach}

Literaturhinweise

[1]	Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe AMK-Büchersammlung unter D 4)