Tiefenschärfe Mikroskop: Unterschied zwischen den Versionen
| (2 dazwischenliegende Versionen von 2 Benutzern werden nicht angezeigt) | |||
| Zeile 6: | Zeile 6: | ||
* [[Elektronenmikroskopie]] | * [[Elektronenmikroskopie]] | ||
* [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]] | * [[Energiedispersive Röntgenspektroskopie|Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX]] | ||
| − | * [[ | + | * [[In situ Ultramikrotomie]] |
* Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]]) | * Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe [[Umgebungs-REM]]) | ||
* [[Mikrotomie]] | * [[Mikrotomie]] | ||
| Zeile 35: | Zeile 35: | ||
|- | |- | ||
|width="20px"| | |width="20px"| | ||
| − | |width="500px" | <math> tg \alpha = \frac{\frac{\delta}{2}}{\frac{T}{2}}=\frac{\delta}{T}; T | + | |width="500px" | <math> tg \alpha = \frac{\frac{\delta}{2}}{\frac{T}{2}}=\frac{\delta}{T};\ T\approx\frac{\delta}{\alpha}</math> |
|(1) | |(1) | ||
|} | |} | ||
| Zeile 54: | Zeile 54: | ||
|- | |- | ||
|width="20px"| | |width="20px"| | ||
| − | |width="500px" | <math> T = \delta \cdot \sqrt{\frac{ | + | |width="500px" | <math> T = \delta \cdot \sqrt{(\frac{\delta}{\lambda})^2-1}</math> |
|(2) | |(2) | ||
|} | |} | ||
| Zeile 79: | Zeile 79: | ||
|-valign="top" | |-valign="top" | ||
|[2] | |[2] | ||
| − | |Reimer, L., Pfefferkorn, G.: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer | + | |Reimer, L., Pfefferkorn, G.: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer Berlin, Heidelberg, New York, 2. Auflage (1977) (ISBN 978-3-540-08154-8; E-Book: ISBN 978-3-642-81112-8) |
|-valign="top" | |-valign="top" | ||
|[3] | |[3] | ||
| − | |Pfefferkorn, G.: Das Rasterverfahren in der Elektronenmikroskopie. Mikroskopie (Wien) 34 (1978), | + | |Pfefferkorn, G.: Das Rasterverfahren in der Elektronenmikroskopie. Mikroskopie (Wien) 34 (1978), 80–112 |
|} | |} | ||
[[Kategorie:Licht]] | [[Kategorie:Licht]] | ||
[[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]] | [[Kategorie:Morphologie und Mikromechanik]] | ||
Aktuelle Version vom 10. Juli 2024, 12:29 Uhr
| Ein Service der |
|---|
|
| Polymer Service GmbH Merseburg |
| Tel.: +49 3461 30889-50 E-Mail: info@psm-merseburg.de Web: https://www.psm-merseburg.de |
| Unser Weiterbildungsangebot: https://www.psm-merseburg.de/weiterbildung |
| PSM bei Wikipedia: https://de.wikipedia.org/wiki/Polymer Service Merseburg |
Tiefenschärfe Mikroskop (Schärfentiefe)
Mikroskopische Methoden
Zur Charakterisierung der Struktur und Morphologie von Kunststoffen werden in der Kunststoffprüfung und Diagnostik die Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie eingesetzt. Dabei werden die nachfolgenden Untersuchungsmethoden bevorzugt verwendet:
- Elektronenmikroskopie
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie – EDX
- In situ Ultramikrotomie
- Low-Vacuum-Rasterelektronenmikroskopie (siehe Umgebungs-REM)
- Mikrotomie
- Rasterkraftmikroskopie
- Rasterelektronenmikroskopie
- Ultramikrotomie
- Umgebungs-REM (ESEM)
- Transmissionselektronenmikroskopie
Die optische Leistungsfähigkeit von Mikroskopen wird durch die folgenden Parameter charakterisiert [1]:
- Auflösungsvermögen
- Förderliche Vergrößerung
- Schärfentiefe
Die Schärfentiefe
Die Schärfentiefe T eines Mikroskops ergibt sich aus der Beleuchtungsapertur α und dem Auflösungsvermögen δ (siehe Bild 1), nach [2, 3]:
| Bild 1: | Zusammenhang zwischen Beleuchtungsapertur α und dem Auflösungsvermögen δ eines Mikroskops |
| (1) |
mit
ergibt sich für n = 1 und kleine Werte von α:
| (2) |
Zusammenhang zwischen Schärfentiefe, Förderlicher Vergrößerung und Auflösungsvermögen
Die Beziehungen zwischen förderlicher Vergrößerung Vförd, Auflösungsvermögen δ und Schärfentiefe T sind in Bild 2 für Rasterelektronenmikroskope (Apertur 10-2 bzw. 10-3) und Lichtmikroskope angegeben (nach [2, 3]).
| Bild 2: | Zusammenhänge zwischen Schärfentiefe T, förderlicher Vergrößerung Vförd und Auflösungsvermögen δ für Rasterelektronenmikroskope (REM) (Apertur 10-2 bzw. 10-3) und Lichtmikroskope (LM); nach [2, 3] |
In [1] sind einige ausgewählte Werte-Tripel, welche die üblichen Arbeitsbereiche von TEM, REM und LM abdecken, zusammengestellt.
Literaturhinweise
| [1] | Kämpf, G.: Charakterisierung von Kunststoffen mit physikalischen Methoden. Verfahren und praktische Anwendung. Carl Hanser Verlag, München Wien (1982), S. 19–21, (ISBN 3-446-13382-8; siehe AMK-Büchersammlung unter D 4) |
| [2] | Reimer, L., Pfefferkorn, G.: Raster-Elektronenmikroskopie. Springer Berlin, Heidelberg, New York, 2. Auflage (1977) (ISBN 978-3-540-08154-8; E-Book: ISBN 978-3-642-81112-8) |
| [3] | Pfefferkorn, G.: Das Rasterverfahren in der Elektronenmikroskopie. Mikroskopie (Wien) 34 (1978), 80–112 |